專利計量

出自 MBA智库百科(https://wiki.mbalib.com/)

　　專利計量是以專利中的計量信息作為分析研究的基礎，通過對專利的計量分析可以洞察行業技術的發展狀況，辨認競爭對手及其技術活動重點和實力並判斷行業的競爭態勢。趨勢表明，專利計量將會成為信息計量學的有機組成部分和競爭情報分析的重要應用工具。

　　專利計量的指標現在很多，但是對於不同的評價目的，應該選擇不同的指標以及指標組合。我們在結合世界知名的CHI Research公司設計的指標體系以及其他一些學者研究的指標和文獻計量的相關知識”，認為應該從巨集觀(某領域)、中觀(某公司)和微觀(某專利)三個層次來設計不同的專利計量指標體系。除了專利的地域分佈、時間分佈、機構分佈、被引次數、平均被引次數、自引次數等基本指標對於每個層次都適用外，每個層次有其自己獨特的一些指標。

　　1.巨集觀專利計量指標

　　此處巨集觀的意思是從某個產業(領域)來看專利的各種分佈。其獨特指標有：①技術迴圈周期(Technology Cycle Time，TCT)：指尚在利用的全部專利年齡的中位數。考察該領域專利多長時間內被取代，反映競爭激烈程度。②科學的強度(Science Strength，SS)：指該領域專利引用的科學文獻的絕對數量。考察該領域專利與科學文獻之間的關係強弱的絕對量。③科學關聯性(Science Linkage，SL)：指科學的強度與該領域的專利數的比值。考察該領域專利與科學文獻之間的關係強弱的相對量。

　　2.中觀專利計量指標

　　此處中觀的意思是從某公司的角度來觀察其專利分佈。從不同的分析角度來看，我們認為應該從“所有領域”和“具體某領域”來設置不同的評價指標體系。“所有領域”主要是從專利數和專利的領域分佈兩個指標來分析，在此不進行贅述。“具體某領域”中的獨特指標有：①及時影響指標(Current Impact Index，CII)：指該公司前5年專利在當年的平均被引次數與某專利系統中所有前5年專利在當年的平均被引次數的比值。考察公司最新專利的影響。②技術強度(Total Technology Strength，TTS)：該領域該公司與及時影響指標的乘積。考察專利質量，為一個加權指標。

　　3.微觀專利計量指標

　　此處的微觀的意思是指具體到某一專利個體進行計量。其獨特指標主要有：①同族專利：反映該專利的地域分佈。②科學力量：指該專利被引單元中科學文獻的數量。反映該專利與科學文獻的交叉性。③第一次被其他公司專利引用的時間：反映該專利的技術壁壘性，如果很快被引用，說明被替代的可能大，反之亦然。

　　前述分別給出了專利計量的巨集觀、中觀、微觀層次的指標體系，對不同的研究目的和研究對象應該使用不同的評價體系。在這裡我們想強調以下三點：①巨集觀、中觀、微觀三個層次指標體系中有些指標是交叉的，比如專利數和專利的被引次數等，它們是專利計量的基礎性指標。但是有些我們認為它最適合歸屬於某個層次的指標體系便將其歸屬到相應的指標體系中，比如技術迴圈周期(Technology Cycle Time，TCT)指標，雖然也可以應用到中觀層次的專利計量指標，但是我們認為它最適合計量產業(巨集觀)專利分佈，所以將其歸人了巨集觀評價指標體系中。②對於具體評價，有些指標獲取的難易程度是不一樣的，並不強求每個指標的數據全部得到。比如及時影響因數(Current Impact Index，CII)，它要求計算專利系統所有前五年專利在當年的平均被引次數，這對於一般專利研究者來說無疑是很難實現的。③微觀層次的計量指標是展開其他層次計量的基礎，所以在具體應用中，其滲透於其他一切專利計量中，比如高被引專利的定義和選取。