专利计量

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　　专利计量是以专利中的计量信息作为分析研究的基础，通过对专利的计量分析可以洞察行业技术的发展状况，辨认竞争对手及其技术活动重点和实力并判断行业的竞争态势。趋势表明，专利计量将会成为信息计量学的有机组成部分和竞争情报分析的重要应用工具。

　　专利计量的指标现在很多，但是对于不同的评价目的，应该选择不同的指标以及指标组合。我们在结合世界知名的CHI Research公司设计的指标体系以及其他一些学者研究的指标和文献计量的相关知识”，认为应该从宏观(某领域)、中观(某公司)和微观(某专利)三个层次来设计不同的专利计量指标体系。除了专利的地域分布、时间分布、机构分布、被引次数、平均被引次数、自引次数等基本指标对于每个层次都适用外，每个层次有其自己独特的一些指标。

　　1.宏观专利计量指标

　　此处宏观的意思是从某个产业(领域)来看专利的各种分布。其独特指标有：①技术循环周期(Technology Cycle Time，TCT)：指尚在利用的全部专利年龄的中位数。考察该领域专利多长时间内被取代，反映竞争激烈程度。②科学的强度(Science Strength，SS)：指该领域专利引用的科学文献的绝对数量。考察该领域专利与科学文献之间的关系强弱的绝对量。③科学关联性(Science Linkage，SL)：指科学的强度与该领域的专利数的比值。考察该领域专利与科学文献之间的关系强弱的相对量。

　　2.中观专利计量指标

　　此处中观的意思是从某公司的角度来观察其专利分布。从不同的分析角度来看，我们认为应该从“所有领域”和“具体某领域”来设置不同的评价指标体系。“所有领域”主要是从专利数和专利的领域分布两个指标来分析，在此不进行赘述。“具体某领域”中的独特指标有：①及时影响指标(Current Impact Index，CII)：指该公司前5年专利在当年的平均被引次数与某专利系统中所有前5年专利在当年的平均被引次数的比值。考察公司最新专利的影响。②技术强度(Total Technology Strength，TTS)：该领域该公司与及时影响指标的乘积。考察专利质量，为一个加权指标。

　　3.微观专利计量指标

　　此处的微观的意思是指具体到某一专利个体进行计量。其独特指标主要有：①同族专利：反映该专利的地域分布。②科学力量：指该专利被引单元中科学文献的数量。反映该专利与科学文献的交叉性。③第一次被其他公司专利引用的时间：反映该专利的技术壁垒性，如果很快被引用，说明被替代的可能大，反之亦然。

　　前述分别给出了专利计量的宏观、中观、微观层次的指标体系，对不同的研究目的和研究对象应该使用不同的评价体系。在这里我们想强调以下三点：①宏观、中观、微观三个层次指标体系中有些指标是交叉的，比如专利数和专利的被引次数等，它们是专利计量的基础性指标。但是有些我们认为它最适合归属于某个层次的指标体系便将其归属到相应的指标体系中，比如技术循环周期(Technology Cycle Time，TCT)指标，虽然也可以应用到中观层次的专利计量指标，但是我们认为它最适合计量产业(宏观)专利分布，所以将其归人了宏观评价指标体系中。②对于具体评价，有些指标获取的难易程度是不一样的，并不强求每个指标的数据全部得到。比如及时影响因子(Current Impact Index，CII)，它要求计算专利系统所有前五年专利在当年的平均被引次数，这对于一般专利研究者来说无疑是很难实现的。③微观层次的计量指标是展开其他层次计量的基础，所以在具体应用中，其渗透于其他一切专利计量中，比如高被引专利的定义和选取。