法圖引理
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法圖引理(Fatou lemma)
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在測度論中,法圖引理是指一個函數列的下極限的勒貝格積分和其積分的下極限的不等關係。法圖引理的名稱來源於法國數學家皮埃爾•法圖(Pierre Fatou),被用來證明測度論中的法圖-勒貝格定理和勒貝格控制收斂定理。
設
為一個測度空間,
是一個實值的可測正值函數列。那麼:
其中的函數極限是在逐點收斂的意義上的極限,函數的取值和積分可以是無窮大。
定理的證明基於單調收斂定理(非常容易證明)。設
為函數列
的下極限。對每個正整數 k ,逐點定義下極限函數:
於是函數列g1, g2, . . .單調遞增並趨於
。
任意k ≤ n,我們有gk ≤ fn,因此
於是
據此,由單調收斂定理以及下極限的定義,就有:
令
為測度空間(S,Σ,μ)中的一列可測函數,函數的值域為擴展的實數軸。如果存在一個在 S 上可積的正值函數 g ,使得對所有的 n 都有
,那麼
這裡
只需弱可積,即
。
證明:對函數列
應用法圖引理即可。
法圖引理不僅對取正值的函數列成立,在一定限制條件下,可以擴展到任意的實值函數。令
為測度空間(S,Σ,μ)中的一列可測函數,函數的值域為擴展的實數軸。如果存在一個在 S 上可積的正值函數 g ,使得對所有的 n 都有
,那麼
證明:對函數列
應用法圖引理即可。
在以上的條件下,如果函數列在S上μ-幾乎處處逐點收斂到一個函數
,那麼
證明:
是函數列的極限,因此自然是下極限。此外,零測集上的差異對於積分值沒有影響。
如果函數列在S上依測度收斂到
,那麼上面的命題仍然成立。
證明:存在
的一個子列使得
這個子列仍然依測度收斂到
,於是又存在這個子列的一個子列在S 上μ-幾乎處處逐點收斂到
,於是命題成立。


